SAK光谱共焦位移传感器
---透明及多层材料，镜面位移厚度解决方案
---非接触精确测量各种材质
SAK光谱共焦位移传感器是一种精度可达次微纳米量级的非接触式位移量测系统，可精准测量漫反射/镜面反射及透明多层材质的位移,厚度,也适合深孔/盲孔工件等运用。
原理
利用特制的彩色编码镜头使可见光产生轴向色散输出，并经由光谱解析器解析共焦回传光波讯号，最后透过波长与位移转换曲线计算出工件位移量测值。
光谱共焦位移传感器不但精度高于传统三角测距传感器，量测不同材质或不同形貌的工件时也能获的稳定一致的结果。
优势及特点
稳定量测各类材质，例如金属/陶瓷/镜面/玻璃等。
适用于各种形貌 (包含深孔/斜面/弧面) 之特征尺寸量测，例如高度/段差/厚度/平面度/轮廓度等
·高温高压等严苛操作条件下亦能适应正常使用·测头结构轻巧，易整合于各行业之自动化测量应用
·结构轻巧且内部不含电子零件而不受环境干扰影响
独特多层材质量测算法,可量测透明 /半透明多层材质间之厚度或间隙
探头型号 | GP-20-D2 | GP-40-D4 | GP-60-D6 | GP-A-40-D2 | GP-A-2-D02 | GP-A-20-D2 | GP-A-80-D8 |
量程范围 | ±1[mm] | ±2[mml | ±3[[mm] | ±2[mm] | ±0.2[mm] | ±1[mm] | ±4[mml |
工作距离 | 18[mm] | 30[mm] | 55[mm] | 33[mmml | 8[mml | 16[mm] | 40[mm] |
分辨率*1 | 0.05[um] | 0.05[uml | 0.05[uml | 0.05[um] | 0.05[uml | 0.05[um] | 0.05[um] |
线性度*2 | ±0.3[uml | ±0.4[um] | ±0.5[uml | ±2[um] | ±0.15[uml | ±0.3[um] | ±0.5[uml |
光点直径*3 | 25[uum | 9[uml | 45[uml | 40[uml | 2[um] | 8[um】 | 40[uml |
******倾角*4 | ±22° | ±15° | ±11° | ±7°oo | ±40° | ±30° | ±15° |
测头尺寸(DxL) | 34x75[mm] | 38x82[mm] | 33x75[mm] | D15x55[mm] | 43x99[mm] | 41x159[mm] | 54x116[mm] |
测头重量 | 105[g] | 145[g] | 122[g]11JJ | 24[g] | 220[g] | 360[g] | 380[g] |
防护等级 | IP40 | IP40 | IP40 | IP40 | IP40 | IP40 | IP40 |
主要特点及应用 | 工作距离、体积角度适中；通用型号，适合多种常规段差、厚度及形貌检测 | 小光斑，长工作距，体积角度中；通用型号，主要用于镜面、硅片、玻璃、金属、瓷器等平面度、轮廓测量 | 工作距离、体积角度适中；通用型号，适合多种常规段差、厚度及形貌检测 | 小体积，长工作距；主要用于安装空间有限且需要并列安装多个测头的测量领域 | 小光斑，高分辨率；主要用于银浆、硅片、锂电极片、触控模块以及薄膜膜厚测量等应用 | 小光斑，大角度；主要用于3D玻璃、陶瓷后盖、中框、倒角点胶工艺的段差和轮廓等测量 | 大量程，长工作距；主要用于玻璃、陶瓷、金属等大段差、深孔形貌特征之测量 |
控制器 | GP-A CON(标准版) /GP-A CON-H(带模拟输出及编码器输入) /GP-A CON-D(双通道版) |
光源 | 白色LED |
控制器尺寸(LxWxH) | 140x120x122[mm] |
控制器重量 | 1.32[kg] |
额定电压 | 24[VDC] |
外部通讯接口 | RS-232：1152001bps[Max.]Ethernet：100BASE-TX/10BASE-T |
防护等级 | IP20 |
采样频率 | 4KHz[Max.] ， 可定制30KHZ |
I0功能 | 触发输入 |
操作温度 | 5~40[℃] |
环境湿度 | 35~80[%L |
环境照度 | <10.000[Ix] |
夹置具 | 可客制化 |
光纤延长线 | GP-F |
长度 | 2/5/10[m] |
重量 | 23/40/69[g」 |
最小折弯半径*5 | 50[mm] |
